概述
Hawk Elite非接觸式光學(xué)測量系統(tǒng),專業(yè)高精尖產(chǎn)品制造公司而設(shè)計。
Hawk Elite能夠極其精確地實現(xiàn)所有材質(zhì)復(fù)雜零件的重復(fù)性測量,在難以觀察的樣本上表現(xiàn)尤為突出,例如黑色或透明塑料。
Hawk Elite具備多功能建模功能,從簡單的手動測量到帶先進數(shù)據(jù)導(dǎo)入、導(dǎo)出和分析,它都能輕松搞定。Hawk Elite提供強大而靈活的解決方案,可以滿足最嚴格的測量要求。
產(chǎn)品優(yōu)勢
● 高精度和可重復(fù)性測量,三維非接觸式測量
● 顯微級分辨率光學(xué)圖像幫助實現(xiàn)高精度測量。
● 已獲專利的光學(xué)觀察頭體可清晰界定測量對象邊緣,提供絕佳的分辨率和對比度。
● 高精度選配測量臺
● 內(nèi)置PC軟件功能強勁直觀,數(shù)據(jù)處理器易于操作
● 各種系統(tǒng)配置和選配件,包括全自動CNC控制
Dynascope™ 專利技術(shù)
Dynascope™技術(shù)省去了對傳統(tǒng)顯微鏡目鏡的需要,可為用戶提供高質(zhì)量的目標物體圖像。 Hawk Elite是真正的光學(xué)顯微鏡。 通過符合人機工學(xué)要求的無目鏡觀察頭體,可觀察到未經(jīng)處理的高分辨率真色光學(xué)圖像。
光線通過已獲專利的Dynascope™光學(xué)器件,以雙(單)光程從單一的觀察鏡頭射出。 這些岀射光線直徑較大,這意味著用戶無需為了查看目標而將其眼睛精確對準觀察鏡頭。
英國工業(yè)顯微鏡有限公司Hawk系列產(chǎn)品
Hawk非接觸式測量系統(tǒng)包含一系列視覺系統(tǒng)產(chǎn)品,可針對具體的測量應(yīng)用單獨定制。
所有Hawk系統(tǒng)都配有英國工業(yè)顯微鏡有限公司的專利Dynascope™觀察頭,能夠提供極其清晰的圖像,使得測量得以精確、輕松地完成。
詳細信息
Hawk Elite能夠提供真正的光學(xué)圖像,實現(xiàn)無與倫比的精度和可重復(fù)性。
利用高對比度、高分辨率光學(xué)圖像,增強表面清晰度,輕松快速完成測量,實現(xiàn)對復(fù)雜部件的精確測量。
Hawk系列與眾不同之處
英國工業(yè)顯微鏡有限公司擁有許多光學(xué)和人機工學(xué)性能優(yōu)化技術(shù)的世界專利。
Hawk的專利技術(shù)Dynascope™可幫助實現(xiàn)對復(fù)雜的低對比度物體進行精密觀察,達到提高測量精度和生產(chǎn)率的同時,還可以降低成本。
黑色背景上測量黑色物體? 白色背景上測量白色物體? 透明物體? 可以極其詳細地查看所有難以觀察的特征,并輕松實現(xiàn)精確測量,這并非輪廓投影儀或者其它視頻測量系統(tǒng)所能完成的。
卓越的光學(xué)器件
如果要非接觸式測量精密部件,顯微鏡需要具備高分辨率、高對比度以及高精測量臺。
Hawk Elite采用英國工業(yè)顯微鏡有限公司旗下專利Dynascope™ 技術(shù),增強表面清晰度,實現(xiàn)快速、簡單的測量。 達到絕佳的光學(xué)清晰度,還允許同時實施詳細的目視檢測。
與其它光學(xué)信息數(shù)字化系統(tǒng)不同,Hawk Elite采用純光學(xué)成像技術(shù),配合人類所知最好的圖像識別系統(tǒng)“人腦”進行測量工作。 因此,您可以完全相信所得到的測量結(jié)果,甚至是對那些難以觀察部件的測量。
完成NLEC測量臺校準
Hawk Elite配備高規(guī)格、高性能的測量臺,其測量范圍高達400mm x 300mm(16" x 12")。
每個測量臺都在出廠前進行了非線性誤差矯正(NLEC)校準,以確保最佳的精確度,校準可溯及NPL/NAMAS/NIST國際標準以符合ISO9000質(zhì)量認證。
結(jié)合0.5μm分辨率的測量編碼器,系統(tǒng)可重復(fù)性可精確至2μm*,確保結(jié)果完全可靠。
*使用200mm x 150mm測量臺時(受控條件下200倍系統(tǒng)放大倍率)。
測量臺選項 | |||
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150mm x150mm | 200mm x150mm | 300mm x 225mm | 400mm x 300mm |
200mm x 150mm CNC |
模塊化結(jié)構(gòu),方便以后升級
Hawk Elite將成為Hawk Duo!
兩種測量系統(tǒng)二合一! Hawk Duo是光學(xué)和視頻測量技術(shù)的二合一系統(tǒng)。無論您要測量哪種部件,它都是最理想的選擇。
無論是需要進行常規(guī)測量抑或是具有挑戰(zhàn)性的測量,Hawk Duo都能夠靈活完成所有部件的測量,不只是簡單的部件。
光學(xué)測量非常適合以下應(yīng)用情況:
● 關(guān)鍵零件,比如醫(yī)療器械、軍用部件、航空航天工業(yè)或衛(wèi)星部件。
● 小批量而又價值較高的部件,包括一般精密設(shè)計零件、汽車和摩托車部件、原型零件等。
● 低對比度的部件,如彩色塑料。
● 難以觀察的特征,如半徑邊緣。
● 需要快速進行一次性測量的情況。
● 需要同時進行目視檢測的情況。
● 以及需要較高可靠性的更多其它應(yīng)用。
系統(tǒng)選項
Hawk Elite非接觸式測量系統(tǒng)的模塊性,可實現(xiàn)針對各種不同的測量應(yīng)用而單獨定制視覺系統(tǒng)。
表面照明
亮白色多點LED環(huán)形燈,可對測量目標均衡無陰影表面實現(xiàn)照明。
適用于各種常規(guī)測量應(yīng)用
反射照明
反射照明裝置或者“鏡后測光(TTL)”照明裝置投射光線,使其通過物鏡,然后跟隨與圖像相同的光程岀射。
特別適用于檢測那些需要更高放大倍率的扁平狀和反光目標物體,或者用于照亮盲孔或較深的表面特征。 微型物鏡僅需要反射照明。
底部照明
底部照明可提供清晰的邊緣輪廓,還可以用于觀察部件上的通孔或者突出半透明零件的特征。
配有拇指旋轉(zhuǎn)式光圈,通過調(diào)節(jié)底部光線,清晰界定邊緣。
濾色片
還配有底部濾色片,可強化待觀察的輪廓。
圖像捕捉
我們擁有一系列多媒體解決方案,可以使您輕松完成捕捉圖像的采集、處理和存檔等工作。
分享信息變得前所未有的簡單。 迅速對不合格零件的圖像進行標記,并以郵件形式發(fā)出以供討論。
定制網(wǎng)格
配有已經(jīng)預(yù)先居中的定制網(wǎng)格
物鏡
有各種物鏡可供選擇: 快換型高數(shù)值孔徑的微距物鏡、四工位轉(zhuǎn)臺陣列、快換型微型物鏡
微距物鏡配有可以調(diào)節(jié)景深的光圈。
軟件
Hawk Elite可選裝以下測量軟件。
ND 1200微處理器(以前的 QC-200)
Hawk Elite系統(tǒng)配有穩(wěn)健、直觀的ND 1200微處理器,所以輪班工人可以像高級用戶那樣輕松學(xué)會使用,能夠輕松實現(xiàn)常規(guī)測量的數(shù)據(jù)處理和報告。
● ND1200非常適用于普通部件特征的測量,比如圓周、角、直線、圓弧和距離等。
● 按照易于操作的理念而設(shè)計,是適用于輪班工人的理想選擇,也可輕松實現(xiàn)常規(guī)測量的簡單數(shù)據(jù)處理和報告。
M3測量軟件
Hawk系統(tǒng)可以配合‘新一代’測量軟件使用,使得Hawk特別直觀而且便于操作和學(xué)習(xí)使用。
● 簡易而又強勁的特征測量
● 軟件菜單選項簡單,操作人員可專注于檢測
● 類似CAD的零件視圖標記,方便檢測測得數(shù)據(jù)。
● 直接比較選項,可輕松將覆蓋圖紙導(dǎo)入CAD,以便檢查這些復(fù)雜的幾何形狀零件,從而輕松判定合格/不合格。
先進的IK 5300測量軟件(以前的QC-5000)
IK 5300測量軟件是Hawk系列非接觸式測量系統(tǒng)內(nèi)置的優(yōu)秀控制界面,提供命令式解決方案,授權(quán)操作人員完成每一步測量程序。
● 該軟件具有多種先進功能,比如自定義公式、條件編程、統(tǒng)計過程控制(SPC)或者RUNS數(shù)據(jù)庫(用于長期追蹤零部件性能)。
● 可完成具有高級數(shù)據(jù)導(dǎo)入、導(dǎo)出和分析特性的多功能建模
技術(shù)
光學(xué)器件
專利雙光瞳單目鏡 Dynascope™無限遠修正光學(xué)系統(tǒng),十字光標網(wǎng)格已經(jīng)預(yù)先居中與雙眼對齊。
放大倍率選項(系統(tǒng)總計)
可以選擇微距物鏡和微型物鏡 單一的微距物鏡包括調(diào)節(jié)景深用的可調(diào)光圈,可以提高邊緣清晰度。 微型物鏡安裝在四工位轉(zhuǎn)臺陣列內(nèi)。
微距物鏡
物鏡 | 總放大倍率 | 工作距離 | 視場(mm Ø) | 景深 |
---|---|---|---|---|
1x | 10x | 84mm | 14.2mm | 270µm |
2x | 20x | 81mm | 7.1mm | 67µm |
5x | 50x | 61mm | 2.8mm | 10µm |
10x | 100x | 32mm | 1.4mm | 6µm |
微型物鏡(標準工作距離)
物鏡 | 總放大倍率 | 工作距離 | 視場(mm Ø) | 景深 |
---|---|---|---|---|
5x | 50x | 20mm | 4.4mm | 12.22µm |
10x | 100x | 10.1mm | 2.2mm | 3.06µm |
20x | 200x | 3.1mm | 1.1mm | 1.3µm |
50x | 500x | 0.66mm | 0.44mm | 0.43µm |
微型物鏡(長工作距離)
物鏡 | 總放大倍率 | 工作距離 | 視場(mm Ø) | 景深 |
---|---|---|---|---|
10x | 100x | 21mm | 2.2mm | 4.4µm |
20x | 200x | 12mm | 1.1mm | 1.72µm |
50x | 500x | 10.6mm | 0.44mm | 1.10µm |
100x | 1000x | 3.4mm | 0.22mm | 0.43µm |
微型物鏡(超長工作距離)
物鏡 | 總放大倍率 | 工作距離 | 視場(mm Ø) | 景深 |
---|---|---|---|---|
20x | 200x | 21mm | 1.1mm | 2.24µm |
50x | 500x | 15mm | 0.44mm | 1.36µm |
軟件
● ND 1200加固微處理器
● M3測量軟件
● IK5300測量軟件
配件
● 底部濾色片(強化異形或者車削零件的清晰度)
系統(tǒng)詳細信息
測量臺 |
|
---|---|
測量范圍(X、Y) |
150mm x150mm |
測量范圍(Z) |
202mm(最大244mm)* |
測量精度 |
U954D = 4+(5.5L/1000)µm |
測量臺可重復(fù)性 |
|
編碼器分辨率 |
|
自動化 |
|
測量臺移動 |
手動 |
照明選項 |
|
表面照明 |
亮白色可控可編程象限LED環(huán)形燈。 |
反射照明裝置 |
可控可編程LED反射照明裝置 鏡后測光(TTL) 微型物鏡需要反射照明。 |
底部照明 |
可控可編程LED底部照明 含光圈調(diào)節(jié)功能,能夠提供清晰界定的邊緣。 |
尺寸 |
|
寬 x深 x 高 |
540mm x 700mm x 780mm |
測量臺 | ||
---|---|---|
測量范圍(X、Y) |
200mm x150mm |
200mm x 150mm CNC |
測量范圍(Z) |
202mm(最大244mm)* |
202mm(最大244mm)* |
測量精度 |
U952D = 2+(4.5L/1000)µm |
U952D = 2+(4.5L/1000)µm |
測量臺可重復(fù)性 |
|
|
編碼器分辨率 |
|
|
自動化 |
||
測量臺移動 |
手動 |
機動化 |
照明選項 |
||
表面照明 |
亮白色可控可編程象限LED環(huán)形燈。 |
|
反射照明 |
可控可編程LED反射照明 鏡后測光(TTL) |
|
底部照明 |
可控可編程LED底部照明 含光圈調(diào)節(jié)功能,能夠清晰界定邊緣。 |
|
尺寸 |
||
寬 x深 x 高 |
750mm x 700mm x 780mm |
測量臺 | |
---|---|
測量范圍(X、Y) |
300mm x 225mm |
測量范圍(Z) |
最大89mm* |
測量精度 |
U9515D = 2+(6.5L/1000)µm |
測量臺可重復(fù)性 |
|
編碼器分辨率 |
|
自動化 |
|
測量臺移動 |
手動 |
照明選項 |
|
表面照明 |
亮白色LED環(huán)形燈 |
反射照明 |
反射照明 鏡后測光(TTL) 微型物鏡需要反射照明。 |
底部照明 |
底部照明 含光圈調(diào)節(jié)功能,能夠清晰界定邊緣。 |
尺寸 |
|
寬 x深 x 高 |
1100mm x 980mm x 700mm |
測量臺 |
|
---|---|
測量范圍(X、Y) |
400mm x 300mm |
測量范圍(Z) |
最大89mm* |
測量精度 |
U952D = 15+(8.5L/1000)µm |
測量臺可重復(fù)性 |
|
編碼器分辨率 |
|
自動化 |
|
測量臺移動 |
手動 |
照明選項 |
|
表面照明 |
亮白色LED環(huán)形燈 |
反射照明 |
反射照明 鏡后測光(TTL) 微型物鏡需要反射照明。 |
底部照明 |
底部照明 含光圈調(diào)節(jié)功能,能夠清晰界定邊緣。 |
尺寸 |
|
寬 x深 x 高 |
1200mm x 1020mm x 700mm |
* 取決于配置。
**以使用10倍微距鏡頭(100倍系統(tǒng)放大倍率)為基礎(chǔ)。
其中L=測得的長度,單位mm(200倍系統(tǒng)放大倍率,根據(jù)受控條件)。
測量臺校準
所有精密測量臺的標準配置都包括出廠前非線性誤差修正(NLEC)校準。